SJT 1147-1993 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法
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ID： |
47C5F483468D41D09BB5AA5C45D2FC87 |
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0.32 |
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3 |
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日期： |
2024-7-28 |
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中华人民共和国电子行业标准,电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和,介电常数试验方法,SJ/T 1147—93,代替 SJ 1147—77,Test method for dielectric loss angle tangent and dielectric,canstant of organic film for use in capacitors,1 主题内容与适用范,1.1 主题内容,本标准规定了电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数的试验方法,1.2 适用范围,本标准适用于厚度为2.50km的电容器用有机薄膜在正常气候条件下或高温下,频率为,50Hz.1 kHz或1MHz时的介质损耗角正切值和介电常数的测定,2引用标准,SJ/T 1145,SJ/T 1146,电容器用有机薄膜电性能试验方法通则,电容器用有机薄膜体积电阻率试验方法,3方法要点,本方法是在规定的频率下,用电桥或其他仪器测出试样的电容或介质损耗角正切值,并根,据试样的电容值,厚度以及测量电极面积算出其介电常数,4测量仪器,能满足薄膜试样的介质损耗角正切值和电容值测试范围的任何仪器均可使用,但测试介,质损耗角正切值误差应不大于l%tgb 1+1X10-5;测试电容值时,误差应不大于±1%,测试时,试样与测量导线应有良好的屏蔽,5试验方法,5.1 方法一真空蒸发铝电极法（本方法为仲裁方法）,5.1.1 试样,采用与SJ/T 1146中3.1. 1. 1条规定的相同试样,每组试样不少于3个,试样要求和试验条件按SJ/T 1145的有关规定,中华人民共和国电子工业部1993-12-17批准1994丒06バ1实施,SJ/T 1147-93,5.12电极,与SJ/T 1146中3.1. L 2.2条规定的电极相同,5.1.3 试验步骤,将试样放置在上下电极之间,上电极应与试样蒸镀面完全吻合;,测试频率为50Hz（如果需要,也可用1kHz及1MHz）,测试电压不超过250V,记录内,容的测量值,C. 在蒸镀面周围测量试样未被蒸镀部分的膜厚（至少测量五点）取其平均值为试样的厚,度.,5.1.4 试验结果的计算,5.1.4.1 介电常数按下式计算,取3个试样计算结果的平均值作为试验结果,�= 14.4C臨x厂丒d,式中:￡--- 介电常数;,Cx——试验样电容值,pF；,d,D,试样厚度,cm；,上电极直径,5.1.4. 2介质损耗角正切值的计算方法根据不同的仪器而定,其结果以3个试样的算术平均,值作为试验结果,5.2方法二橡皮铝箔电极法,5.2.1试样,5. 2.1.1试样尺寸 根据测量电极尺寸而定,但需保证大于电极直径10mm以上,5.2.1.2试样层数 按试样厚度（a）而定,见下表,层间必须保持清洁,空气应排除,且迭合,整齐,无折皱及损伤,试样厚度及层数,度 （わ,ptin,三数I,心10,10>d>6,d46,1,2,3,5. 2.1 3试样要求和试验条件按SJ/T 1145的有关规定,5. 2.1. 4试样数量 每组试样不少于3个,5.2.2电极,a. 上电极直径为20 士。, 1mm,下电极直径为25 士。, 1mm,材料为铜,电极工作面粗糙度,凡的最大允许值为。.8Nm,用螺旋压紧接触式电极夹具使电极与试样紧密接触。夹具的金属材,料为铜或钢,绝缘材料为聚四氟乙烯,夹具本身的介质损耗角正切值应不大于1义1。ー50,b.在上下电极的工作面再附加橡皮铝箔电极.橡皮为导电橡皮,厚约1mm,表面粗糙度,凡的最大允许值为L 25km,邵氏硬度为Ha4。.Ha5。,体积电阻率应不大于1。。。。?51,铝箔,应退火,厚度要小于1。円!1,表面应平整光滑,见图1,2,SJ/T 1147-93,5.2.3 试验步骤,a,将试样夹入两电极中间,两电极必须同心,电极与试样必须紧密接触,测试频率为50Hz（如果需要,也可用1kHz及1MHz）,测试电压不超过250V,记录电,容的测量值,c.在放置电极的面积内,测量试样3点的厚度,取其算数平均值作为试样厚度,5.2.4 试验结果的计算,按5.1. 4进行,附加说明:,本标准由电子工业部标准化研究所归ロ 〇,本标准由铜陵市薄膜电容器总厂负责起草も,本标准主要起草人漳晓红、叶立打,本标准于1977年6月首次发布,、用J,0……
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